台LED热能分析仪获全球科技奖 可提升LED产品良率
【大比特导读】散热性能一直是影响LED寿命与光品质的重要因素，工研院率先开发可于产线即时量测LED热阻的分析仪，将可大幅降低LED照明产品的不良率，让消费者选购产品更心安。
素有科技产业奥斯卡之称的全球百大科技研发奖(RD100Awards)评选揭晓，台工研院以线上即时热能分析仪等两项创新研发科技获奖，在国际舞台上大放异彩。
工研院徐爵民院长表示，线上即时热能分析仪有技术处大力支持，研究团队开发出快速热性能量测技术，而且可结合LED自动化机台在生产线上即时量测，在速度、成本和精确度上协助LED厂商提升产线良率，这项技术去年已技转给旺矽科技，预计年底就要量产上市。
0.3秒测LED热阻即时监控散热优劣
散热性能一直是影响LED寿命与光品质的重要因素，工研院率先开发可于产线即时量测LED热阻的分析仪，将可大幅降低LED照明产品的不良率，让消费者选购产品更心安。工研院研发出的线上即时热能分析仪(In-LineCompactThermalAnalyzer，ICTA)，只需3分钟即可量测出完整的LED封装元件热结构，为目前国际上效率最高的热结构分析仪。此技术并成功与LED自动化光电分类机台整合，研发出全球首套自动化LED热阻测试设备，每小时量测速度可达1万2000颗元件，等于每颗元件量测只需0.3秒，比传统一小时在实验室只能量测6颗元件，速度远远加快了2千倍。
目前已与LED设备厂旺矽科技合作，开发出全球首部结合暂态热结构分析及线上热阻量测功能的分析仪，预估此设备今年底将进入商品化阶段，可同时满足研发及量产验证需求，提供产线进行即时监控、不良品筛检、制程优化、提升良率，大幅降低LED照明产品的不良率，让消费者购买LED产品更有保障。
工研院电子与光电研究所刘*廷所长表示，LED是未来的主要照明光源，但内部各层材料介面的热阻问题依旧是LED发展的重要课题之一。事实上，只要能掌握LED热阻数据，就能推估产品的寿命、效率、及光品质。传统上测量LED热阻时，步骤繁复且耗时耗力，因此只能在产品设计阶段时在实验室进行量测。工研院所研发的热能分析仪不仅可层层分析元件热结构，更可在生产线上即时测量，透过解析LED散热能力关键的固晶层，让所有LED产品的散热优劣无所遁形。对于每年全球超过一千亿颗的LED总生产量，是非常有利的工具，不但提升效能、改善良率，更可以提高自动化生产的程度，对LED产业含照明应用以及面板应用意义重大。
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